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成都新西旺科技在机器视觉缺陷检测技术领域(尤其是线扫描系统)具备丰富的工程经验,在精密结构、运动控制、模式识别、特征搜索、并行计算加速等方面具有深厚的技术沉淀。以下是缺陷检测系统的案例:
1.基于颜色特征的缺陷检查
主要对被测物表面的色彩特征,基于RGB、YCbCr、HSI等多种色彩空间的向量特征进行统计学处理,采用模式分类、特征学习等多种方法,将缺陷特征与正常特征相区别,判定和识别缺陷位置。主要应用于印刷包装、PCB制造、医疗设备等领域。
2. 基于几何特征的缺陷检查
主要针对产品的几何形状特征,结合CAD等已知特征信息,对产品的相对应区域进行噪声处理以及特征的提取、拟合、参数提取,然后与设计特征比较,对偏离值超出设定值的区域位置进行判定。
3. 基于纹理、Blob等统计特征的缺陷检查
针对产品的表面灰度分布特征进行统计,采用高阶统计因子、边缘检测算子等方法将缺陷点与背景进行分离,快速识别缺陷位置。
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